磁盘表面光滑度检测
http://www.ndttech.net/uploads/allimg/150109/144A35623-0.jpg实验研究了不同磁头飞行状态下磁头磁盘界面声发射信号的特性，分析了各种情况下的声发射信号的频率特性，利用磁头悬臂振动时产生的声发射信号作为对比，验证了磁头悬臂振动产生的声发射信号与磁头磁盘碰撞接触紧密相关，是磁头磁盘碰撞声发射信号的重要来源，可以作为判断头盘界面接触和碰撞的依据，利用它可以提高声发射信号对磁头磁盘界面碰撞接触检测的灵敏度。
存贮位密度是磁盘的主要性能指标之一.由经典公式知道,位密度D满足下面关系:1/D～((a+h)~2+(g/2)~2)~(1/2)式中a和g分别由磁层的特性和磁头的结构所决定.因此,提高磁盘存贮的位密度,降低磁头的浮动高度h是重要手段之一.事实上,经严格抛光处理的磁盘表面,仍存在着妨碍磁头浮动高度降低的小突起.它们非常细小,以至用常规方法很难检测.用声发射方法可以进行检测.
页:
[1]